實時檢測生產過程的重要指標參數，以便于對反應進行監測和控制；

• 如今，光譜分析已成為一項非常重要的在線過程監控與優化的技術。通過光纖連接探頭的檢測方式，可以直接監控生產過程，而不存在時間延遲。

• MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜儀可以對反應釜和生產管道進行直接測量，讓您更好地理解和控制生產過程。其創新型技術，提供了高度一致的

測量結果、減少了停機時間，并實現模型方法的直接轉移。布魯克的所有在線光譜儀都具有臺間差小、長期穩定性和低維護成本的特點。

• 已有數千臺儀器的安裝和使用，分布于化工、石化、聚合物和制藥行業的生產過程中，以及食品和飼料的制造領域，這些都是我們豐富經驗的有力

證明。

FT-NIR生產過程監控

  如今，許多制造商不*力求生產出具有**品質的成品，還力圖通過將實驗室的成品質量分析技術轉移到生產過程中，從而來改進生產效率。通過加大對生產過程的控制力度，制造商將有望優化物料利用，減少甚至消除不合格批次的產生，從而節約再加工或報廢處理的成本。使用在線MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜的關鍵優勢在于：

數秒內即可獲得精確的在線結果

• 無損、多組分同時分析

• 內置6通道多路器

• 模型直接轉移

• CMET  協議如下: 支持各種通訊協議，布魯克提供的通訊堅固耐用、低維護設計

• 干涉儀活動部件和固體激光器的10年質保

• 適用于防爆危險區

• 以太網連接并支持工業標準通信協議

光纖優勢

FT-NIR分析技術的實時在線監測的優勢已眾所周知。然而，傳統的光譜儀只能安裝在監測生產線附近，這意味著分析儀會長期工作在危險環境中，例如，極端的溫度變化、高濕、粉塵和污垢。更重要的是，有時測量點很難放置儀器，這些往往位于防爆危險區。利用光纖技術，MATRIX-F II可與測量點相距數百米，例如，當環境條件有要求時，可以把儀器裝在空調室內。這消除了極端的溫度變化，可進一步確保光譜儀的性能，還可以防止免于過度的灰塵和污垢。

布魯克可結合客戶的需求，為各種在線監測分析條件，提供完整的定制化解決方案

MATRIX-F II傅立葉變換 近紅外光譜儀可連接多達 6個光纖探頭或非接觸式 探頭。

MATRIX-F II 系列：一臺光譜儀，多種選擇

是目前**一款*憑一臺儀器，就可以對物料進行接觸式測量和非接觸式測量的FT-NIR光譜儀。

MATRIX-F II：經典的FT-NIR光譜儀，通過光纖連接流通池 和插入式探頭，用于固體和液體測量。

MATRIX-F II系列有不同的測量附件可供使用：

光纖探頭：

MATRIX-F II適配經典的漫反射探頭、透反射探頭或具有各種光程長度的插入式透射探頭，以及在線流通池或相關的試驗附件。有多種探頭材質可供選擇，例如，不銹鋼或哈氏合金。此外，探頭還可以根據不同的長度和法蘭幾何尺寸進行定制。

用于非接觸式的測量探頭：

非接觸式探頭內置了鎢光源，可以照射樣本；并將收集的漫反射光通過光纖傳輸至光譜儀。通過這種方式，就可以遠程進行非接觸式測量，實現一系列全新應用。

標準版本的MATRIX-F II可以適配各種不同的光纖探頭，并**用于反應釜、管道或旁路內的在線過程監測。它提供光纖連接，可連接多達6個流通池或探頭，以進行接觸式的液體和固體測量。

在非接觸式測量方面，布魯克設計了MATRIX-F II emission，它利用連接的非接觸式探頭，用于在線測量傳送帶上的固體樣品，或通過視窗測量固體樣品。

MATRIX-F II duplex是MATRIX-F II和MATRIX-F II emission的組合。其檢測光路可以在內部近紅外光源和外部近紅外光源之間切換，為客戶提供了充分的靈活性。憑借這兩個選項，MATRIX-F II duplex成為了市面上

**一款*憑一臺儀器就可以進行接觸式測量和非接觸式測量的近紅外分析光譜儀。

MATRIX-F II emission：特別版MATRIX-F II光譜儀，通過 光纖連接漫反射探頭，*用于非接觸式測量。

面向工業4.0的智能分析儀

借助可選的集成式PC和內置式通迅模塊，MATRIX-F II可以成為一款智能分析儀，這減少了安裝工作，實現了堅固耐用的7*24全天候的過程監測。再加上CMET軟件解決方案，MATRIX-F II可以通過物聯網（IoT）接口，提供許多額外的設備參數，以用于狀態監控 。

MATRIX-F II duplex：經典MATRIX-F II 傅立葉變換近紅外 光譜儀的擴展版本，可同時連接接觸式探頭和非接觸探頭

附件 

-浸入式探頭

浸入式探頭是在FT-NIR過程質量控制領域*為**常用的一種探頭。布魯克將協助您配置與工藝條件*為匹配的探頭材質。在很多案例中，設備或反應釜都已經配備了用于連接這種插入式探頭的標準接口。根據測量原理，浸入式探頭可分為三類：透射探頭：用于透明液體反透射探頭：用于固體物料反射探頭：用于懸浮液或乳液插入式探頭有不同類型的光纖可供選擇。標準的透射探頭使用單束光纖；透反射探頭和反射探頭通常使用光纖束，用來引導近紅外光信號從光譜儀端的輸出和輸入。光纖探頭在光傳輸和光程精確方面，具有極高的一致性。基于某種類型探頭定標的模型，無需對數據進行任何操作，就可以將模型直接傳遞到相同類型探頭的系統中。

透射探頭，帶有法蘭接口 （選配），用于測量透明 液體（照片來源: Analytics）。

漫反射探頭，用于在漫反射 測量固體、漿液和不透明 的液體（照片來源：Solvias  AG）。

-流通池

除了插入式探頭，流通池也在過程控制領域廣為使用，可以直接安裝在管道或旁路中，這樣可以讓樣品流經流通池測量。這些流通池的尺寸各不相同，適用于不同直徑的管道。流通池只能用于透射測量：光源發出的近紅外光經過光纖傳導至樣品，并穿透樣品，然后被準直儀收集起來，然后進入通過另一根光纖，傳輸回儀器檢測器。流通池兩端的光纖通常采用固定光程定位器來固定的。因此，在更換或清潔流通池后，可以重新精確地安裝好流通池，這樣模型可以直接從一個測量點轉移到另一個測量點。布魯克可根據客戶的需求，提供各種流通池。

透反射探頭，用于測量懸濁 液體（例如，發酵過程）、漿 液或乳液（例如，各種類型 的牛奶和奶油）。

安裝在管道或旁路上的流 通池（照片來源：Solvias  AG）。

用于非接觸式測量的探頭 

近紅外非接觸式探頭由布魯克設計，采用漫反射方式對移動的固體物料 進行非接觸式測量。與傳統的反射探頭相比，非接觸式探頭具有以下優勢： 兩個近紅外光源的照射光斑直徑約10mm——是傳統漫反射探頭的 10倍以上。 為保障過程檢測的持續性，非接觸式探頭可以在單光源模式下運行。 如果其中一個光源發生故障，則自動**第二個光源，以便進行連續 的過程測量。 單 束成本很高。 束光纖就可以將光信號傳輸回光譜儀，而傳統反射探頭采用的光纖 與大多數固體探頭相比，非接觸式探頭內置了參考鍍金塊，可以自動隨 時進行背景測量，停止運行進行手動背景采集。 大光斑的測量方式，降低了顆粒尺寸不均勻的影響，使其成為測量不均勻 物料（例如，食品和飼料成分、聚合物顆粒或漿料）的理想選擇。 

非接觸探頭可以輕松安裝在管道或設備上自帶的觀察視窗的前面，或通過 專門設計的焊接式法蘭接口直接安裝。它還可以安裝在傳送帶上方，用于 測量移動的物料。 借助MATRIX-F II的內部光學多路器，一臺光譜儀可以連接多達6個探頭。 這極大地降低了對每個測量點的投資。采用的是傅立葉變換技術，而價格 卻和不同技術水平的光柵型或濾光片型儀器相當。 

放在實驗室支架上進行離 線測量的非接觸式探頭

非接觸式探頭安裝在設備視窗前

效用**化 

布魯克開發了多種附件，旨在推進傳感器頭在*為嚴苛的環境下的安裝。 對于溫度可能高達75°C的區域，可以使用高溫版探頭；   布魯克開發了多種附件，旨在推進傳感器頭在*為嚴苛的環境下的安 裝。 對于多塵區域，使用空氣吹掃組件（選配）可防止測量窗口被污染；   布魯克開發了多種附件，旨在推進傳感器頭在*為嚴苛的環境下的安 裝。 對于會振動的設備（例如，篩子），可以使用**的橡膠護套等柔性連接 來降低震動影響。 此外，布魯克還可根據客戶的要求進行定制化的設計，來適應視窗或管道 上的安裝。

非接觸式探頭的柔性連接 方式，安裝了橡膠護套和觀 察窗，可以保持測量區域的 清潔，避免灰塵和污垢

吹掃功能（選配），防止測 量窗口結垢（例如，因靜電 吸附灰塵）。

在線近紅外工業機柜 

MATRIX-F II及其工業PC的外形設計等，可以輕 松放置在19英寸的標準機柜內，這個非常適和 用于在線分析儀機柜。 以下場合推薦使用機柜： 出現溫度波動 儀 高濕度環境 器專人專管 帶空調的機柜可以在內部維持恒定的溫度和濕 度，因此，即使外部條件波動，也能確保進行穩 定的測量。 布魯克提供兩種不同尺寸的機柜。尺寸較大的 機柜為MATRIX-F II及外部6端口多路器和帶 TFT顯示器的工業PC提供了充足的空間。 尺寸較小的機柜為密閉空間設計，可容納一臺 MATRIX-F II。

多路器 

MATRIX-F II光譜儀有單通道或6通道可供選擇。 只需一臺光譜儀，就可測量多達6個測量點，從 而降低投資成本。光纖探頭通過標準的SMA接 口，連接到光譜儀。

時實時檢測生產實時檢測生產過程 的重要指標參數，以 便于對反應進行

較小版本的19英寸在線分 析儀機柜，用于MATRIX-F  II光譜儀

通道以藍色 通道多路器：當前運行的 LED顯示

較大版本的過程分析儀機 柜，頂部配有空調系統和一 臺帶TFT顯示器的工業PC

防爆危險區解決方案

MATRIX-F II經認證，可將近紅外光傳輸到以下危險區：

Ex II(1) G [Ex op is IIC T4 Ga] 

Ex II(1) D [Ex op is IIC Da] 

根據整個系統的哪一部分必須被放在危險場所， 其改造可包含以下變動：

• 在危險場所，通過光纖進行數據傳輸。 

• 使用干燥空氣或氮氣對光譜儀的內部光學腔 進行吹掃和加壓。

• 所有表面材料（光纖、電纜等）都必須符合靜電 放電的防爆要求。

MATRIX-F EX 

MATRIX-F 還提供經ATEX認證的防爆版本，符合以下標準；

II 2(1) G Ex pxb [op is T4 Ga] IIC T6 Gb

帶加壓外殼的 EX，可直接置于防爆危 MATRIX-F  險區

用于防爆危險區非接觸式漫反射探頭

與MATRIX-F II組合使用時，非接觸探頭也可提 供防爆版本（ATEX/IECEx和AEx）。它符合以下標準：

ATEX

II 2(1) G Ex d [op is T6 Ga]

IIC T6 Gb II 2(1) D Ex tb [op is T85°C Da] IIC  T85°C Db  

UL認證

I類，1區，AEx d [op 是 T6] IIC T6 

21區，AEx tb [op 是 T85°C] IIIC T85°C  

憑借我們的防爆認證系統，布魯克可為您在危險 環境中的特定需求，提供量身定制的解決方案。

防爆的非接觸式探頭，連接 到標準MATRIX-F光譜儀

監 測和控制過程 的重要指

CMET過程軟件 

CMET過程軟件是布魯克出色的FT-NIR過程分析儀和客戶分布式控制系 統（DCS）之間的紐帶。DCS發出的命令被傳輸到CMET，CMET開始執行 指定的測量，并將數據傳回DCS，用于進行數據通訊。 

日益增長的自動化需求不*需要先進的硬件，還需要與之匹配的軟件。 CMET由一個配置界面和一個運行界面組成，可以安裝在單獨的PC上。

主要特點 

• 易于使用的模塊化設計

• **的配置界面和運行界面  Watchdog信號

• 作為應用程序或服務自動啟動

• 支持*常見的通訊協議

• OPC客戶端和服務器功能

• 不同的觸發模式

• 定制化的的日志文件

• 基于網絡服務器的趨勢圖

• 在線偏差校正

CMET設置界面——設置模塊分為四組

CMET設置 

該界面采用模塊化概念，包含了所有必要功能，可以為不同的應用場景設 置，例如，從簡單的連續測量，到非常復雜的批次處理，以及不斷變化的 產品（配方）。通過使用外部觸發信號，DCS可以完全控制儀器。 

光譜儀設置：定義通用測量點及其測量參數 

產品設置：創建產品，調整特定測量參數并增加定標模型。自定義存儲選項，并定   義附加的產品輸入變量（例如，批次ID）。

I/O設置：設置不同的通訊協議（可以同時使用不同的協議） 

場景設置 ：給產品分配一個特定的測量點，并定義啟動觸發和輸出信號。

CMET Runtime 

Runtime環境用于兩大任務：  背景測量與管理  持續測量和過程監測 

Runtime可以輕松地配置加載并自動啟動一個 特定流程，這在停電時十分便利。CMET除了提 供定量和定性結果外，還可提供一系列信號，例 如，當前正在運行哪個測量通道、化學計量報警 或測量點的實際光強度。

Runtime服務

CMET Runtime——用于 輕松管理復雜場景的用 戶界面

除了自動啟動之外，CMET Runtime還可以作為 Windows服務啟動，以確保在沒有用戶登錄的 情況下，實現全部功能。這對于不打算進行登錄 的服務器安裝而言，大有幫助。

CMET 趨勢圖 為了監測**數據，CMET Runtime具有一個基 于網絡（包括網絡訪問）的趨勢圖。

實時部分：   使用每個產品的自動更新趨勢圖，監測目前的 測量結果。 

歷史部分：   瀏覽您的數據庫儲存的測量結果的歷史記錄。 

CMET 趨勢圖——在趨勢 圖或表格視圖下監測 測量結果

通訊協議 

CMET支持各種通訊協議，布魯克提供的通訊協議如下:

OPC DA - 客戶端和服務器功能

Analog Communication (4 – 20 mA) - ADAM 單元 - 模擬卡（需要PCI插槽）

現場總線 (PCIe 卡) - Profibus DP (Connection: RS485)

現場總線（軟件解決方案）  - 以太網TCP/IP（例如，Modbus TCP、 Allen-Bradley、西門子工業以太網）

現 場總線（外部模塊）-  odbus RTU 或 TCP (Connection: RS485,  RS232 或 RJ45) - Profibus (Connection: RS485)  - ProfiNET (Connection: RJ45)

現場總線 （儀器解決方案，* MATRIX-F II) - Modbus (Connection: RS485, RS232,   以太網TCP/IP)

CMET 趨勢圖——圖為顯示 了所有測量點的**測量 結果的實時表格

應用：化工、聚合物和制藥

過程分析技術（PAT）旨在控制生產過程，以確保*終產品質量合格。在化工、石化和制藥行業，從*終產品到生產環節質量過程監測是行業公認的需求。通過FT-NIR光譜技術可實現原材料、中間體和*終產品的實時分析。

案例：化工行業 

在化工行業，FT-NIR技術得到了**應用。*需數秒就可測得高信息量的 近紅外光譜，同時對多種不同的組分和系統指標進行高精度定量分析。 典型案例：監測基礎化學品的合成、蒸餾、精餾過程，以及化學反應的終 點測定。 

案例：半導體生產 

在如今半導體競爭和供需緊張的環境下，優化生產過程，盡可能地減少不 合格品產生，是保持競爭力不可或缺的條件。 近紅外分析技術與多參量分析技術相結合，是半導體各種生產環節實現這 一目標的理想在線測量工具。在半導體典型生產環節，比如清潔、蝕刻、 光刻膠顯影以及光刻膠剝離，可采用FT-NIR技術進行過程監測。

案例：聚合物行業 

在聚合物生產過程中，典型測量參數有密度、熔融指數、羥值或游離單體 含量。 況。 FT-NIR光譜技術可以測量聚合物關鍵生產環節中聚乙烯的生產情 該技術還可以測定聚合的當前狀態，以及擠出前后的產品質量。另一個典 型的應用案例，可實現橡膠乙烯基和苯乙烯含量的在線分析。

案例：石化精煉過程 

從石油中提煉汽油是又一個可以使用FT-NIR技術的復雜過程，用來優化 和控制不同的加工過程。**個關鍵工藝是原油的分餾，會產生輕石腦油 和重石腦油以及柴油等產物，這些產物可采用FT-NIR技術進行分析。 為了獲得**性能，*終的汽油會加入多種添加劑。FT-NIR技術監測的 典型質量參數：研究法辛烷值或馬達法辛烷值（RON和MON）和密度，以 及PIONA分析。此外，FT-NIR技術還被**用于汽油和柴油調和過程。

案例：制藥片劑生產  

制藥行業的片劑生產過程包括：混合、制粒、干 燥、壓片和包衣。這些不同的加工步驟可以通過 MATRIX-F II聯用漫反射探頭或傳感器頭進行在 線監測，以確保產品安全，并降低生產批次不合 格的風險。

安裝于流化床反應器的在線探頭，以漫反射方式檢測。

反射探頭（照片來 Solvias AG）。

應用：農業、食品和飼料

在農業、食品和飼料行業，從二十世紀七十年代首臺商用近紅外谷物分析儀，到如今現代化的FT-NIR光譜儀，近紅外光譜技術在實驗室得到了快速的應用。然而，大多食品生產廠家仍在使用單變量傳感器來監測生產過程，比如溫度傳感器，流

速傳感器、pH傳感器等。不過這些參數往往與食品質量評估不相關。

FT-NIR光譜儀可以提供材料在各個生產階段的信息，包括定性判別、一致性評價和化學成分定量。尤其對于主要的關注成分，例如脂肪，蛋白質和水分或總固形物，都可以同時進行分析。與傳統的分析方法相比，具有很大的成本優勢。

FT-NIR分析技術的典型應用領域：

1. 飼料和飼料成分

2. 油籽和谷物

3. 食用油和煎炸油

4. 乳制品

5. 生物燃料

6. 甘蔗和甜菜

案例：奶粉生產 

噴霧干燥是奶粉生產的一個關鍵過程，具有高能耗的特點。通過在儲罐、噴 霧干燥器的進料口以及流化床干燥器的粉末出口等位置安裝FT-NIR傳感 器探頭，就可以監測和連續跟蹤水分含量。 利用近紅外技術有效控制干燥效率，以實現目標水分含量值，不*降低能 耗，縮短停機時間、減少不合格批次，還可提高過程的總產能。 

案例：油籽加工 

根據油的類型，在機械或溶劑提取工序前，對種子/果實進行冷壓或熱處 理。利用在線FT-NIR技術，對進入提取過程的物料以及壓榨后的油餅水分 和含油量進行監測，可以快速高效地了解生產效率。 對提取出的原油可直接進行組分分析，比如游離脂肪酸、磷脂或蠟，以獲得 **生產條件，用于后續的精煉過程，可避免不合格生產批次的高額返工成本。

案例：煎炸油監測 

在高溫下，連續重復使用煎炸油脂會發生一系 列降解。 越來越多的游離脂肪酸、總極性成分和聚合三 酰基甘油的降解會導致感官品質的下降，并對健康造成潛在危害。 采用FT-NIR光譜分析技術進行在線監測煎炸過 程，現已成為一項公認的煎炸油質量評估方法。 它有助于優化煎炸油脂更換時間，從而經濟高 效地運行生產線，確保消費者的安全。 

案例：黃油生產監測 

從經濟的角度來看，黃油水含量盡可能地保持 在法定限16%很重要，因為水比黃油當然要便 宜得多。使用FT-NIR光譜分析技術監測水分和鹽 含量，用標準法蘭可以將反射探頭或傳感器探頭 安裝在黃油生產線中。 考慮到黃油的高產量和24/7全天候運行，通常 FT-NIR技術可以在幾個月內就能收回投資。

安裝在傳送帶上的傳感器 探頭，用于連續分析豆粕。

用于非接觸式測量的傳感 器頭。

質量可靠 

現如今，受監管大環境的影響，儀器必須遵守各種監管要求。布魯克提供 **的系統驗證服務，提供驗證文件和審查程序，以系統性和極低成本的 方式遵循當前法規要求。 

合格的硬件  

布魯克FT-NIR光譜儀配備了自動濾光片輪，該濾光片輪內置于測試儀器， 包括用于測試儀器性能的標準品和濾光器。OPUS軟件包含OVP（光學驗 證程序），這是一個儀器測試程序，它使用濾光輪中的標準品執行一系列 性能測試。 該程序可以評估儀器性能，并確定光譜儀的操作是否符合規范。此外，布 魯克的Validation Program（驗證程序）為用戶提供了一套完整的認證程 序，滿足USP和Ph.Eur等認證要求。OPUS支持自定義設置，以滿足您個 性化的認證要求，并且狀態始終顯示在用戶面前。 

完全符合GMP和21 CFR Part 11 要求 

OPUS光譜軟件配備一套合規認證程序，為必須符合GMP標準的實驗室 提供協助。不同用戶管理具有多個安全級別，不可編輯數據文件和完善的 審計跟蹤等，是這款完善的光譜分析軟件的眾多功能的一部分。OPUS完 全支持FDA頒布的21 CFR第11法規（電子記錄、電子簽名）的要求。

過程軟件解決方案

用于過程工業的所有布魯克光學軟件產品，包括 OPUS，CMET和反應監測軟件，這些軟件都經過 了充分的驗證，可以安全可靠地符合客戶預期用 途的要求。 

資質證明 

布魯克光學的產品和服務符合所有質量標準，比 如 ISO 9001和 ISO 13485，成功通過了多家制 藥公司的審核，并被視為一個硬件和軟件獲得全 面認可的供應商。 每位客戶都會收到儀器和配件的全套證書。

 愛護環境

為了證明布魯克對客戶的生態和環境承諾，我們 還通過了ISO 14001認證。 此外，我們為減少能源使用、進而減少溫室氣體 排放進行不懈努力，實現了包括能源效率、能源 安全、能源使用和能源消耗方面的持續改進，因 而獲得了ISO 50001認證。

您成功道路上的合作伙伴

布魯克深知客戶支持不**意味著安裝、維護 和修理設備，我們承諾為客戶提供詳盡且專業技 術知識，并幫助客戶理解我們的系統的方方面 面。我們所從事的業務不**是銷售分析儀器， 還包括完整解決方案的應用和支持工作。從儀 器配置、演示和安裝*匹配客戶應用需求的儀 器，到培訓儀器操作者，并持續提供技術支持， 我們力求在每一個細節上都能讓客戶滿意。 我們的儀器致力于讓您多年免維護運行，一旦發 生問題，布魯克遍布全球的公司和**隨時都 能快速響應您的需求。專業的安裝和高水準的 售后服務是布魯克對每一位客戶的承諾。我們可 以按照工時、配件或服務合同為您提供服務。

現場拜訪

當我們無法遠程診斷您的問題時，或者當您只是需要立即響應，我們遍布 全球的現場工程師將為您提供快速的本地支持。我們也意識到，時間就是 金錢。我們的及時服務升級程序，可以讓您高枕無憂：當您需要我們時， 布魯克工程師就會到達現場。

預防性維護 

為了**限度地減少意外停機、降低成本和控制風險，計劃性維護仍然是 **。在現場計劃維護期間，經布魯克培訓上崗的工程師將**檢查您的 系統的安裝、校準和潔凈情況，并核查其性能是否符合技術規范。他們將 按照一份詳盡的維護清單維護，確保您的系統正確且安全地運行。

合同服務 

布魯克提供一系列合同，滿足您的具體需求。我們非常樂意根據您的具體 情況，為您量身定制合同，來滿足您****的需求。布魯克合同的宗旨 是，在幫助您控制成本的同時，本著合作精神，為您帶來超值服務，** 限度地延長儀器正常運行時間。我們的合同內容通常包括預防性維護，并 為您的儀器運行提供出色的現場響應。

布魯克FT-NIR產品系列

FT-NIR 化學品的特點，使其成為一種定量分析和定性分析的快速可靠方法。 技術是一種可替代傳統耗時濕化學法和色譜分析技術的實用分析方法。該方法具有無損、無需樣品制備，不使用危險 近紅外是快速鑒定原材料的理想分析技術，也是一種可準確定量分析多組分的強大分析工具。其基于光纖探頭技術的在線 監測能力，可以幫助客戶深入了解生產過程。 布魯克FT-NIR產品線包括實驗室和旁線應用的TANGO和MPA II光譜儀，以及用于過程控制的MATRIX-F II系列光譜儀。

TANGO 更快速、更簡單、更安全——借助TANGO光譜儀，可加快您的近紅外分析 速度。TANGO完全滿足用戶對適用于工業用途的FT-NIR光譜儀的要求： 堅固耐用、**度高，操作簡單易懂。

MPA II 當解決一個具體的分析任務時，選擇**的測樣方法至關重要。借助 MPA II，您可以有一套完整的解決方案，它不*適用于日常QA/QC工作， 還適用于復雜的方法開發研究工作 。

MATRIX-F II 借助MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜儀，采用接觸式或非接觸式測樣 方式，您可以直接監測反應釜、管道中或傳送帶上的樣品。這將有助于您 增進對生產的了解，更好地控制生產過程。

pH、傳感器等。不過這些參數往往與食品質量評估

在農業、食品和飼料行業，從二十世紀七十年代首臺商用近紅 外谷物分析儀，到如今現代化的FT-NIR光譜儀，近紅外光譜 技術在實驗室得到了快速的應用。然而，大多食品生產廠家仍 在使用單變量傳感器來監測生產過程，比如溫度傳感器，流 速傳感器、 不相關。

過程分析技術（PAT）旨在控制生產過程，以確保*終產品質 量合格。在化工、石化和制藥行業，從*終產品到生產環節質 量過程監測是行業公認的需求。通過FT-NIR光譜技術可實現 原材料、中間體和*終產品的實時分析。

過程分析技術（PAT）旨在控制生產過程，以確保*終產品質 量合格。在化工、石化和制藥行業，從*終產品到生產環節質 量過程監測是行業公認的需求。通過FT-NIR光譜技術可實現 原材料、中間體和*終產品的實時分析。

過程分析技術（PAT）旨在控制生產過程，以確保*終產品質 量合格。在化工、石化和制藥行業，從*終產品到生產環節質 量過程監測是行業公認的需求。通過FT-NIR光譜技術可實現 原材料、中間體和*終產品的實時分析。

標參數，以 便于對反應進行監 測和控制檢

過程 的重要指標參數，以 便于對反應進行監 測和控制標參數，以 便于對反應進行監 測和控制